利用图像处理的粒度分布与颗粒分析
以往的颗粒及粒度分析使用激光散射式颗粒分析仪或显微镜。此外，近年来随着CMOS拍摄元件及镜头精度、照明技术、图像处理技术的进步，也有使用高性能数码显微系统的情况。
新型数码显微系统不仅具备高画质，还配备了利用图像二值化的颗粒抽取及定量化、测量条件再现等满足各种需求的丰富功能。
下面凯发K8国际一触即发将为您介绍使用新型4K数码显微系统的粒度分布及颗粒分析课题解决案例。
利用图像处理的粒度分布与颗粒分析是什么
“图像二值化”是指将具有灰度级的图像转换为黑白图像的处理。设定任意的阈值，并与各像素值进行比较，当大于阈值时转换为黑，小于阈值时转换为白。另外，还可以指定进行二值化的范围。
进行图像二值化后，可进行从必要部分仅获取黑或白信息的处理，从而使颗粒分析更加容易且高速。
使用新型4K数码显微系统的粒度分布及颗粒分析案例
传统激光绕射及散射法*无法观察实际颗粒🎐。另外，利用显微镜进行观察时需要熟练度，也难以再现拍摄条件✅。而且，需要使用其他软件分析获取的数据。
利用4K数码显微系统“VHX系列”进行粒度分布及颗粒分析时，在观察实际颗粒的同时，可进行各种测量。而且，通过图像二值化进行自动面积测量、拍摄🦄设定再现及校正时，无需检测人员的熟练度，简ꦬ单操作即可完成。
激光绕射及散射法
是指利用激光照射进行粒度分布及颗粒分析。利用散射光强度与颗粒数量成正比的规律性🌼以及颗粒大小与光散射绕射模式的相关性的测量分析法。
自动面积测量
能够简单进行指定范围内的目标物面积测量与计数。使用图像的亮度及颜色进行二值化，还可计算面积、最大直径、最小直径等参数，并剔除多余目标物或分离重合的目标物。另外，可使用过去测量的图像数据，在相同条件下进行分析。
并且，可将测量值以表格或柱状图形式输出，从而能够定量掌握粒度分布特征。
拍摄设定再现与校正
利用显微镜观察时，༒难以再现上次的拍摄条件（照明、快门速度、白平衡等）以及进行二值化时的图像处理及校正等测量条件。
4K数码显微系统“VHX系列”则只需从相册选择已保存的图像，即可再现过去的拍摄设定。即使检测人员变化或时间流逝后，也能够以与上ꦑ次相同的拍摄条件进行观察。
而且，对ꦜ于需要在正确位置对准焦点标尺才能进行的校正，如今凭借“一键图像校正”，只需设置专用标尺并单击即可完成。读取照明条件、快门速度、白平衡等镜头所需的校准值，通过XYZ轴电动控制，自动调整位置与焦点。
- A. 高分辨率HR镜头
- B. 电动镜头转换器
还配备了无需更换镜头就能完成20至6000倍倍率变更以实现无缝缩放的高分辨率HR镜头与电动镜头转换器等可减轻颗粒分析作业负担的丰富功能。同时，操作十分简单，不擅于使用设备的人员也能够迅速准🐎确地完成观察与分析。
观察、拍摄、测量只需1台设备
使用高精细4K数码显微系统“VHX系列”，能够进行高效化作业，实现消除人为误差的正确测量及分析。
利用由先进光学技术、图像处理技术及自动化技术共同实现的高精细4K图像，可以清晰观察涂膜及起粒、分散的详细情况。而且无需进行高难度操作，即使是尚未熟练掌握设备使用方法的人员，也能快速得出高水准的分析结果。
还能利用“报告功能”，将拍摄、测量所得的数据导出为统一格式的简单报告，在企业内部服务器等平台上共享数据。不仅能满足工业标准、确保品质，还能查明涂装缺陷发生的原因，协助改良工序等。
“VHX系列”还配备了许多其他新功能，在确保涂装、涂膜品质及可靠性方面能够成为非常重要的伙伴。
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