形状测量激光显微系统
VK-X 系列
推荐替代产品: 控制器 - VK-X3000
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控制器 VK-X1000
规格
型号 | VK-X1000 | |||
类型 | 控制器 | |||
综合倍率 | 28,800 倍以下*1 | |||
视野 (最小视野范围) | 11 µm 至 7,398 µm | |||
帧率 (激光测量速度) | 4 至 125 Hz、7,900 Hz*2 | |||
测量原理 | 光学系统 | 针孔共聚焦光学系统、变焦 | ||
光接收元件 | 16 bit 感应光电倍增器、超高精细彩色CMOS | |||
扫描方式 | 自动上下限设定功能、高速光量最佳化功能 (AAGII)、反射光量不足补充功能 (双扫描) | |||
高度测量 | 显示分辨率 | 0.5 nm (VK-X1100)、5 nm (VK-X1050) | ||
线性标尺 | ||||
动态量程 | 16 bit | |||
重复精度σ | 激光共聚焦 | 20 倍 : 40 nm、50 倍 : 12 nm (VK-X1100) | ||
变焦 | 5 倍 : 500 nm、10 倍 : 100 nm、20 倍 : 50 nm、50 倍 : 20 nm (VK-X1100) | |||
高度数据获取范围 | 70 万步骤 | |||
准确性 | 0.2 + L/100 µm 或更小 (L = 测量长度 µm)*3 | |||
宽度测量 | 显示分辨率 | 1 nm (VK-X1100)、10 nm (VK-X1050) | ||
重复精度 3σ | 激光共聚焦 | 20 倍 : 100 nm、50 倍 : 40 nm (VK-X1100) | ||
变焦 | 5 倍 : 400 nm、10 倍 : 400 nm、20 倍 : 120 nm、50 倍 : 50 nm (VK-X1100) | |||
准确性 | 测量值±2 % 以内*3 | |||
XY 载物台结构 | 手动 运行范围 | 70 mm x 70 mm | ||
电动 运行范围 | 100 mm x 100 mm | |||
观察 | 观察图像 | 超高精细彩色CMOS 图像、16 bit🐟 激光彩色共焦点图像、共焦点 + ND 滤波器光学系统、C - 激𒐪光微分干涉图像 | ||
照明 | 环状照明、同轴落射照明 | |||
测量用激光光源 | 波长 | 紫色半导体激光 404 nm (VK-X1100) | ||
最大输出 | 1 mW | |||
激光产品 | 2 类激光产品 (GB7247.1) | |||
电源 | 电源电压 | 100 至 240 VAC、50/60 Hz | ||
消耗电流 | 150 VA | |||
重量 | 约 3.0 kg | |||
*1 23 寸显示器画面上的倍率 (全屏显示器时)。 |