粗糙度测量 / 激光显微镜

仅需在设置好样品后单击即𝔉可自动测量的激光显微镜。具有1台即可覆盖光学显微镜到SEM领域的观察力、瞬间准确扫描各种目标物形状的测量力、丰富的分析工具等特点，可满足观察、测量、分析等各种需求。

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产品阵容

VK-X3000 系列 - 形状测量激光显微系统

采用了三重扫描方式，运用激光共聚焦、白光๊干涉、聚焦变化等三种不同的扫描原理，高倍率和低倍率，平面、凹凸表面的细微粗糙度，以及镜面体，透明体等。VK拥有应对多种样品的测量能力（从 1 nm 到 50 mm），纳米/微米/毫米一台完成测量。

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