凯发K8国际一触即发

分光干涉位移型多层膜厚测量仪

SI-T 系列

本型号已停产。
产品符合从我司发货时的认证标准。

推荐替代产品: 传感器头多层变位测量型 - SI-T10

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传感器头扫描变位测量型 SI-TS10

SI-TS10 - 传感器头扫描变位测量型

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传感器头 扫描变位测量型 SI-TS10

传感器头扫描变位测量型 SI-TS10