2D/3D 线激光测量仪
LJ-X8000 系列
2D/3D 线激光测量仪 LJ-X8000 系列
以超高精度 测量各种工件
大视野、高精度机型上市
超高精细测量
- 超高精度
- 可支持各种材质
- 设定只需 3 步
通过低代码实现耗时的3D图像处理开发 - 源代码自动生成功能 -
3D图像处理开发支持软件LJ Developer使3D图像处理的二次开发工作变得极其容易。
过去仅限特定的开发人员可进行3D图像处理开🍌发，如今只需具有2D图像处理知识🧸，就可以轻松开发3D图像处理软件。
- 提供各种专用库，包括高度和平面度测量工具、位置校正功能、异常数据去除功能、图像合成功能和3D图像绘制功能等。
- 可通过专用UI直观地进行测量设置。
- 使用自动源代码生成功能，可以非常轻松地集成到用户程序中。
产品应用
产品特性
超高精度测量 为以往的 4 倍*
采用 3200 points/profile 超高精度测量，可以精🥀确地绘制出目标物的形状。通过呈现“真实形状”，从而实现精确的尺寸测量和外观检测。
* 与本公司LJ-V7000 系列产品的比较。
传统*
- 粗略
- 数值跳动
- 容易受表面状态的影响
* 与本公司LJ-V7000 系列产品的比较。
LJ-X8000
- 细致入微
- 精确
- 各种表面状态都可稳定检测
能够实现超高精度的理由
如果仅单纯地提升CMOS 的像素数，单个像素变小，无法得到足够的受光量。结果会导致高度方向的精度下降、工件检测能力的下降。LJ-🐬X8000 🐭系列为了解决此问题，采用了下述新技术。
柱面物镜
采用特别设计的柱面物镜，照射平行光。抑制目标物表面的反射光扩散。
大口径受光镜头
除了特别的光学设计，还搭载以往设备3 倍* 测量面积的大口径受光镜头，大幅提高受光量。
* 与本公司LJ-V7000 系列产品的比较。
高精度 CMOS 为以往的 4 倍*
搭载 3200 points/profile 的新开发高精度 CMOS。
* 与本公司LJ-V7000 系列产品的比较。
轮廓对齐功能
生成 3D🍃 图像时，分别用 X・Z・θ 补偿 2D 轮廓的位置🅘。消除振动、偏心、工件弯曲及起伏等影响，生成适于检测的图像。
无轮廓对齐
受搬运振动的影响，无法生成理想的 3D 图像。
有轮廓对齐
通过轮廓对齐，可生成理想的 3D 图像。可在线实现打痕、缺陷等稳定检测。
性能型号选项丰富，可应对各种应用和需求
LJ-X8000 💫系列可应对各种检测需求，提供合适的选型。协助生产现ꦜ场实现质量提高、人工节约、工艺创新。
