超高速/高精度CMOS激光位移传感器

LK-G5000 系列

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传感器头 光点式 LK-H022K

LK-H022K - 传感器头 光点式

*请注意,图片中的配件可能不包括在产品中。

技术规格(PDF)

手册

CAD 数据

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软件

  • CE 标志概述

规格

型号

LK-H022K

安装模式

镜面反射型

参考距离

16.1mm

测量范围

±2.8 mm*1

光源

类型

红色半导体激光

波长

655nm

激光等级

GB7247.1: 2 类
FDA (CDRH) 21CFR Part 1040.10: II 类

输出

0.95mW

光点直径 (在参考距离时)

ø25 µm

线性度

±0.02% F.S.(F.S.=6 mm)*2

重复精度

0.02 µm (0.01 µm)*3

采样周期

2.55/5/10/20/50/100/200/500/1000 µs (可选择 9 种级别)

温度特征

0.01% F.S./°C(F.S.=6 mm)

环境抗耐性

外壳防护级

IP67

环境光照

白炽灯/荧光灯:最大 10,000 lux

环境温度

0 至 +50 °C

相对湿度

35 至 85 % RH (无凝结)

抗震性

10 至 55 Hz、双振幅 1.5 mm、X,Y,Z 方向各 2 个小时

材料

铝铸外壳

重量

约 230 g

*1 取样周期在 20 µs 以上时的测量范围。
*2 该值是指 KEYENCE 标准目标物 (仅用于 LK-H008/LK-H008W 的白色漫反射工件或带有金属镜面的工件) 在正常测量模式下的测量值。
*3 该值是指 KEYENCE 标准目标物 (仅用于 LK-H008/LK-H008W 的白色漫反射工件或带有金属镜面的工件ꦅ) 在测量平均值设为 16384 的参考距离下的测量值。括号内的值 是在测量平均值设为 65536 且取样周期为 200 µs 时的典型测量值。

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